任哲
- 類別： 特聘青年研究員
- 研究方向：
主要研究方向為發(fā)展及應(yīng)用基于同步輻射加速器進行的X射線衍射與成像技術(shù)， 如：
1.?X射線納米探針技術(shù)：聚焦X光到微米或者納米量級，研究薄膜樣品在三維倒易空間中的衍射強度與實空間中的不均勻性；
2.?布拉格相干性衍射成像技術(shù)：近30年中興起的新型衍射成像的技術(shù)。通過相干光照射樣品，測量三維倒易空間中布拉格峰附近的衍射強度，然后進行相位還原算法成像，表征納米結(jié)構(gòu)中的應(yīng)力，應(yīng)變，缺陷和疇結(jié)構(gòu)；
3.?X射線光子關(guān)聯(lián)譜：通過相干性X射線衍射研究樣品系統(tǒng)中的動力學(xué)過程，本人主要專注于表征蛋白質(zhì)大分子的凝膠化過程；
4.?微米級勞厄衍射：通過衍射圖樣確定樣品中晶體的取向，結(jié)合聚焦X光，該技術(shù)被用于研究納米結(jié)構(gòu)的彎曲與扭轉(zhuǎn)形變；
- 學(xué)歷： 博士研究生
- Email： renzhe@ihep.ac.cn
- 地址： 北京市石景山區(qū)玉泉路19號乙
- 郵編： 100049
2009年畢業(yè)于山東大學(xué)，獲物理學(xué)學(xué)士學(xué)位。
2012年畢業(yè)于德國烏爾姆大學(xué)（Ulm University），獲先進材料碩士學(xué)位。
2016年畢業(yè)于法國艾克斯-馬賽大學(xué)（Aix Marseille University）（IM2NP研究所），獲物理學(xué)博士學(xué)位
2017-2019 于瑞典，隆德大學(xué)，同步輻射研究所，從事博士后
2019-2023 于德國，德國電子同步加速器，P10相干性衍射線站，從事博士后
2023年起加入中國科學(xué)院高能物理研究所多學(xué)科中心，副研究員/特聘青年研究員
本人先后參加過以下三個主要項目， 共發(fā)表論文20余篇，其中一作/通訊4篇，谷歌學(xué)術(shù)總引用206次。
項目1：在同步輻射加速器進行的原位納米力學(xué)測試
參與搭建能夠應(yīng)用于同步輻射光源的原子力探針顯微鏡，發(fā)展新型的探針與納米聚焦光斑的共聚焦方法，結(jié)合該顯微鏡與微米級勞厄衍射進行原位納米力學(xué)實驗，首次表征了金納米線在三點彎曲過程中的彈性和塑性形變。
項目2：表征砷化銦納米線的結(jié)構(gòu)與電學(xué)性質(zhì)的關(guān)系
通過掃描隧穿顯微鏡得到納米線的電學(xué)性質(zhì)， 結(jié)合布拉格相干性衍射成像得到的結(jié)構(gòu)信息，創(chuàng)新性的探究了砷化銦納米線電學(xué)性質(zhì)與其中的缺陷的關(guān)系。
項目3：P10相干性衍射線站用戶服務(wù)
在P10相干性衍射線站負(fù)責(zé)布拉格相干性衍射成像實驗，進行用戶服務(wù)，編寫數(shù)據(jù)處理相關(guān)軟件。
1. Z. Ren, T. W. Cornelius, C. Leclere, A. Davydok, J.-S. Micha, O. Robach, G. Richter, and O. Thomas*, (2020), First stages of plasticity in three-point bent Au nanowires detected by in situ Laue microdiffraction, Appl. Phys. Lett. Volume 116, p 243101
2. Z. Ren, T.W. Cornelius, C. Leclere, A. Davydok, J.-S. Micha, O. Robach, G. Richter, O. Thomas*, (2018), Three-point bending behavior of a Au nanowire studied by in-situ Laue micro-diffraction, Journal of Applied Physics, Volume 124, p 185104
3. Z. Ren, T.W. Cornelius, C. Leclere, A. Davydok, J.-S. Micha, O. Robach, G. Richter, O. Thomas*, (2018), Plasticity in inhomogeneously strained Au nanowires studied by Laue microdiffraction, MRS Advances, Volume 2, pp 2331-2339
4. Z. Ren, F. Mastropietro, A. Davydok, S. Langlais, M. -I. Richard, J.J. Furter, O. Thomas, M. Dupraz, M. Verdier, G. Beutier, P. Boesecke, T.W. Cornelius*, (2014), Scanning force microscope for in situ nanofocused X-ray diffraction studies. Journal of Synchrotron Radiation, Volume 21, pp. 1128-1133
